Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式从其它设计中截取过孔模型和仿真分析操作指导
Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式支持从其它设计中截取过孔模型用于仿真分析,同样以差分模板为例
具体操作如下
- 双击打开System Explorer软件
- 界面打开如下
Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式从其它设计中截取过孔模型和仿真分析操作指导
Sigrity System Explorer Snip Via Pattern From Layout模式支持从其它设计中截取过孔模型用于仿真分析,同样以差分模板为例
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