本期分享一篇intel在DesignCon2019上发表的介绍汽车芯片封装SIPI优化的paper--《Signal/Power Integrity Optimizations In An IoT Automotive Package》,文章主要介绍汽车芯片在SIPI上面临的挑战并提出了一些优化措施。
汽车芯片的发展趋势
如今,消费者对于车内用户体验的要求愈发复杂多样,这促使功能强大的处理器在汽车领域得到广泛应用。
到 2025 年,互联汽车市场规模预计将达到 2250 亿美元,自 2018 年起的复合年增长率为 17.1%。原始设备制造商(OEM)通过整合电子控制单元(如仪表盘集群、车载信息娱乐系统、抬头显示等)来降低成本,进而得以在中等价位的车辆上更多地部署互联功能。
与移动产品相比,汽车物联网(IoT Automotive)产品在产品可靠性、生命周期等各个维度,均有着更为严苛的要求。汽车(Automotive)产品和移动产品(Mobile,如笔记本电脑、超极本、平板电脑)在多个方面的存在差异:
- 温度额定值
汽车产品的工作温度范围是 - 40°C 至 +115°C,而移动产品为 0°C 至 +85°C,汽车产品需适应更宽的温度区间。
- 制造工艺
汽车产品采用集成散热器(Integrated heat spreader),移动产品则使用加强板(Stiffener)增强部件结构强度和刚性,提升抗变形能力。
- 温度循环(TC)
汽车产品的温度循环要求是移动产品的 7 倍,意味着汽车产品需经受更多次的温度变化考验。
- 百万缺陷数(DPM)
汽车产品的百万缺陷数仅为移动产品的 0.02 倍,表明汽车产品对质量控制要求更高,缺陷率更低。
- 产品生命周期
汽车产品的生命周期是移动产品的 5 倍,使用寿命更长。
- 产品可靠性
汽车产品的可靠性是移动产品的 2 倍,且通常不允许有微带线布线(μ - strip trace routing),而移动产品允许微带线布线。
- 无源元件
汽车产品需达到 AEC - Q200(汽车级)标准,移动产品仅需达到商业级标准。
- 认证测试
汽车产品需通过 AEC - Q100 认证测试,移动产品只需通过商业级认证测试。
总体来看,表格清晰地展示了汽车产品在可靠性、耐久性等方面相比移动产品有着更严格的标准和要求。
车规电子产品的PI方面的挑战
为适应汽车更为严苛的使用条件,需要采用先进的技术与工艺,具体如下:
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符合 AEC - Q200 标准的无源器件带来的PI方面的挑战,相较于消费级无源器件的特点:器件外壳尺寸比消费级大 1 - 2 倍,高度是消费级的 2 倍以上。主要体现在相同容值的电容,车规的尺寸更大。
此外还有如下问题:
供应受限:汽车级元器件的可获得性有限。
电气性能下降:与消费级相比,能安装在封装上的汽车级电容器更少,这可能导致电气性能下降。
封装尺寸增大:为了将汽车级元器件安装到封装的焊盘侧(即低应力芯片,LSC),需要更大的球栅阵列(BGA)间距和直径,这会导致封装外形尺寸增大。
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板级底部填充(BLUF)带来的PI方面的挑战;
板级底部填充(BLUF)材料被插入到封装和主板之间,目的是增强机械焊点的可靠性。通过填充封装和主板间的空隙,BLUF 可以更好地分散应力,提升连接的稳固性。
同时也产生了其它问题
热循环中的收缩与膨胀:BLUF 材料在热循环过程中会发生收缩和膨胀。汽车在不同环境温度下使用,或者电子元件工作发热等情况都会导致热循环,这会使 BLUF 材料的体积不断变化。
对低应力芯片(LSC)的影响:这种体积变化会使低应力芯片(LSC)面临破裂的风险。因为 BLUF 材料与芯片的热膨胀系数可能不同,反复的热胀冷缩会在芯片上产生应力,进而导致芯片破裂。此外,在设计阶段,没有足够的实验室数据来证明其他情况(即没有足够数据表明这种风险可以被有效避免或降低)。
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较厚的封装芯板带来PI方面的挑战;
为避免翘曲、应对IoT汽车应力要求,需要一个厚封装芯板。厚CORE比mobile产品的薄Core或无Core设计的3-7倍。这就导致更大的封装电感和电阻,增加了PI设计的难度。
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数量较多的非关键功能(NCTF)球栅阵列(BGA)
在封装角落以及芯片阴影区域附近的 BGA 球,由于老化和温度循环产生的累积应力,容易出现焊点开裂的情况。因此,这些 BGA 球被特意指定为非关键功能(NCTF)球。也就是说,这些位置的 BGA 球在设计上不承担对功能至关重要的任务,以降低因焊点开裂导致关键功能失效的风险。
图片右侧是一个示例 NCTF 图,其中 NCTF 以红色标出,直观展示了 NCTF 在 BGA 布局中的分布情况。
问题是在汽车设计中,这种情况更为严重,相比移动设备设计,需要两倍数量的非关键功能(NCTF)BGA 球。这就导致原本可以用于关键功能(CTF),如电源、信号和接地的 BGA 球被占用,减少了关键功能(CTF)可分配位置的灵活性。因为更多的 BGA 球被划定为 NCTF,使得为关键功能合理安排 BGA 球的布局选择变得更少,从而对汽车电子产品的设计和性能优化带来了挑战。
车规芯片PI优化策略:
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优化 DSC 连接
通过层分配、电容放置和电容分配来优化 DSC(Die Side Cap)连接。合理的Power层分配能优化电源传输路径,电容的合理布局有助于减小环路电感,降低电源噪声。
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利用电源通道
在功耗最高的电源轨上利用电源通道(power corridor)。电源通道是一种专门设计的电源传输路径,能够更高效地传输大电流,减少电源传输过程中的损耗和电压降,保证高功耗组件稳定供电。
如上图所示,在大电流的电源轨道上使用电源走廊,电源和GND ball从BGA内部延伸到BGA边沿,可以将PCB电源平面延伸到芯片CORE区域以提供从PCB电压调节器到芯片的可靠PDN连接。
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使用封装边缘的电源和接地 BGA
在印刷电路板(PCB)上使用封装边缘的电源和接地球栅阵列(BGA),以实现第二阶段(边缘电容)去耦。这样可以在靠近电源需求端的位置进行去耦,更好地滤除高频噪声,改善PI性能。
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使用封装上的槽式电感器
设计中经常会有一些电源合并的场景,如大噪声的CORE电源与一些高速IO接口电源、锁相环PLL电源等合并在一起。此时处理不好会出现CORE电源对其它敏感电源的干扰问题。使用封装上的槽式电感器将 “嘈杂” 的电源轨与 “安静” 的电源轨隔离。不同的电源轨可能存在不同程度的噪声干扰,通过槽式电感器的隔离作用,可防止噪声从高噪声电源轨传导到对噪声敏感的电源轨,保证敏感电路的正常运行。
本期重点介绍了车规芯片PI方面面临的挑战以及优化策略,下一期再重点介绍SI方面的挑战和优化策略。