当我们在进行接插件操作或者电路板调试时,有时会出现接口损坏或者电路板上的某个IC芯片失效的情况,原因可能仅仅是手触摸到了IC芯片,ESD(Electro-Static discharge 静电释放)导致了损坏。模组作为一个集成电路板,内部含有不同型号和规格的集成IC芯片,当其发生ESD事件时,可能对其内部芯片造成不可逆的损坏。下面将从ESD概述、ESD防护、ESD器件选型、ESD典型案例和注意事项5个方面来讲解。
一、ESD概述
(1)ESD来源与影响因素
静电的产生主要是是人与其它物体发生摩擦或者接触后,丢失了部分电子,积累了较多正电荷,当积累的电荷达到一定程度后,与金属物体接触时,金属物体上的电子就转移到人手上,电子移动就形成了ESD电流,也就是静电释放的过程。
产生静电的大小一般与四个方面有关,包括空气中的湿度、接触面的面积、接触的物体材质、接触或摩擦的时间等,例如在同样的条件下,10%湿度条件下产生的静电电压是远大于40%湿度条件下产生的静电电压的。
(2)ESD危害
ESD在电子产品的生产、测试、使用过程中都可能造成其内部电力损伤。一般有突发性损伤和潜在性损伤两种,前者表示损坏是突发性的,通过相关仪器可以进行检测,生产测试过程中可以将其进行筛选出来,而后者表示产品内部只损坏了一部分,电子产品功能不会立即失效,但已经是“受伤状态”,后续使用过程中将对产品质量造成更大影响。据相关统计,每年潜在性损坏占比达90%左右。
(3)ESD系统模型
在芯片或者电子产品生产、组装、测试过程中定义了两种常见模型,一种是带电人体的放电模型,又叫做HBM(Human Body Model),如图1,人体的静电通过芯片引脚接地,触发ESD事件;另外一种是充电器件的放电模型,又叫做CDM(Charged Device Model),如图2,一般指芯片在生产流程中因为与其它物体摩擦而使其壳体带电,当元器件引脚接地时,产生ESD事件。图3为常见电源芯片手册中的ESD防护等级。
图1 HBM放电
图2 CDM放电
图3 TPS61088电源芯片的ESD防护等级
上述两种模型的放电电流特性图如图4,CDM的特点是放电电流大,但是时间较短,HBM的特点是放电时间长,但放电电流峰值小,变化较平缓。
图4两种放电模式电流比较图
不论是HBM还是CDM放大模式,都只是描述了芯片在生产、组装、运输过程中所出现的ESD情况,而在我们使用、调试芯片及电路板时,实际放电电流更大,变化更加复杂,因此会采用另外一种标准IEC 61000-4-2来描述更为常见的ESD系统模型,如表1,其包含4个等级,一般情况下我们会要求电子设备具备等级4的抗静电程度,如果需要更高级别的防护,则需要考虑添加额外的ESD保护器件。
IEC 61000-4-2 | 接触放电电压(KV) | 气隙放电电压(KV) |
1 | 2 | 2 |
2 | 4 | 4 |
3 | 6 | 8 |
4 | 8 | 15 |
表1 IEC 61000-4-2标准表
(4)ESD与EOS
EOS(Electrostatic Over Stress)是指广义的过电应力,即电子器件或者IC芯片承受电压或者电流超过其最大范围,ESD是EOS的一种,如表2,是常见三种过电应力的现象的比较。
闪电 | 过电(EOS) | 静电放电(ESD) |
电压大、能量大 | 电压较小、持续时间较长、能量较小 | 电压大、持续时间短、能量较小 |
表2各种电应力的比较
二、ESD防护
ESD防护最常用的是添加ESD二极管进行保护,如图5,是常见的ESD电路保护模型。
图5 ESD电路保护模型图
当系统中有ESD事件发生时,大电流从ESD二极管流向地,从而保护了后级电路。在实际应用中,不仅要求从设计上避免ESD事件的发生,同时需要从生产、运输等各个方面进行ESD防护,例如工厂人员操作时带上防静电手环,工厂测试时配备离子风扇等,同时工厂整个环境,包括地面、桌面、工厂人员衣服等都有相应要求。
三、ESD器件选型
模组部应用较多的是使用TVS二极管进行静电防护,下面简单介绍如何为一个电路选择合适的TVS二极管型号。
(1)了解被保护引脚或者电路的工作电压
例如我们要对一个ML307A的USB接口进行静电保护,因为USB接口的工作电压是5V,因此所选TVS管的反向工作电压Vrwm必须大于或者等于5V,Vrwm又叫反向截止电压,因为二极管反向截止时也是存在电流的,只是此时的电流比较小(通常为nA级别),当电路工作电压大于Vrwm时,TVS二极管电流会增加,影响电路的正常工作。
(2)了解被保护引脚或者电路的最大可承受电压
钳位电压是指当二极管流过较大电流时,因为二极管本身是存在电阻的(动态变化),二极管两端的电压就叫做钳位电压,如果受保护时的最大钳位电压过大,将会对被保护系统造成损坏。
(3)了解需要防护的最大浪涌电流
当ESD事件发生时,通过二极管的最大电流必须小于TVS二极管的IPP(峰值电流),否则将会对TVS二极管造成损坏,一般要求被保护系统的防护等级达到IEC 61000-4-2的第四等级。
(4)了解所要保护的电路工作电流是单向还是双向的
当被保护电路中只存在正向电压时,选择单向的TVS二极管即可(单向的往往反向漏电流也更小);如果被保护电路中即存在正向电压,有存在反向电压,那么此时就需要选择双向的TVS二极管。
(5)了解被保护电路中的信号工作频率,是否有严格的时序要求
TVS二极管本身是存在结电容的,增加一个TVS二极管就相当于并联了一个电容,当电路中存在高频信号时,增加的电容值将会增加信号的上升和下降时间,且电容的容值越大,上升时间和下降时间就越大,当上升时间与信号持续时间相差不足一个量级的时候,此时将会影响信号的正常传播,也就是影响信号完整性。例如当在SIM卡电路中使用保护二极管时,因为SIM_IO和SIM_CLK信号线工作频率较高,如果选用的TVS二极管结电容过大,那么SIM读卡时序可能受到影响而导致无法读卡。
图6是SR05 TVS二极管手册上的一些参数描述,图7是ML307A模组对ESD防护的相关设计要求。
图6 SR05二极管参数
图7 ML307A USIM接口参数
四、售后典型ESD问题
案例1:
问题现象:ML307A模组无法读卡。
分析过程:
(1)测试SIM卡各引脚对地阻抗是否正常。结果:未发现异常。
(2)测试SIM各引脚开机波形是否正常。结果:SIM_IO和SIM_CLK信号波形异常。
(3)查看电路中TVS二极管的结电容大小是否满足手册要求。结果:结电容远大于手册要求值。
(4)取下SIM_IO和SIM_CLK信号线上的TVS二极管,测试读卡是否恢复正常。结果:模组读卡正常。
问题结论:SIM卡电路中TVS二极管选用不当,导致模组读卡异常。
拓展:类似的还有ML307A的USB接口D+和D-使用在TVS二极管时,因为USB2.0的通信速率高达480Mbit(3.0更高),如果所使用的TVS二极管结电容过大,将会导致模组无法正常识别USB。
案例2:
问题现象:M5310-A TX串口通信异常。
分析过程:
(1)测试TX口电平、波特率及相关通信数据格式是否正常。结果:未发现异常。
(2)测试TX引脚对地阻抗是否正常。结果:TX引脚对地阻抗偏低。
(3)送回原厂进行切片分析。结果:TX口静电损坏。
问题结论:TX口静电损伤,造成模组通信异常。
拓展:各类模组VBAT脚、IO脚阻抗偏低、甚至短路(被烧),均有可能来源于静电损伤,有些静电损伤是潜在性损伤,也就是说器件不会立即发生功能故障或者失效,而是“带伤工作”,相比于正常模组,质量和性能都有所降低,更容易发生故障。
案例3:
问题现象:M5310-A异常重启。
分析过程:
(1)抓取模组重启log,发现重启原因为RST引脚被异常拉低。
(2)模拟客户侧环境,测试RST引脚是否存在异常波动。结果:RST引脚未发现异常。
(3)观察模组实际使用环境,疑似静电引起的干扰,图8为M5310-A模组的抗静电参数图,RST引脚抗静电能力较弱。
图8 M5310-A抗静电参数图
(4)用静电枪模拟实际使用环境中的静电级别,观察模组是否重启,RST引脚是否存在异常脉冲。结果:模组重启,RST引脚出现异常下降沿脉冲。
问题结论:静电干扰引起RST引脚复位,导致模组重启。
拓展:后续在RST引脚处添加了抗干扰电路和静电防护电路,用于保护模组。
案例4:
问题现象:M6313无法定位。
分析过程:
(1)实际测试样品,发现其定位功能无法使用。
(2)测试GPS定位芯片关键点电压是否正常。结果:未发现异常。
(3)测试GNSS通路放大器相关引脚对地阻抗是否正常。结果:阻抗偏低,疑似损坏。
(4)更换GNSS通路放大器,再次测试模组定位功能。结果:模组定位恢复正常。
(5)经原厂切片分析,GNSS通路放大器属于EOS损坏。
问题结论:外部电路设计不合理,导致GNSS通路放大器EOS损坏,所以模组无法正常定位。
- 注意事项
1、使用模组时可以在模组硬件设计手册中关注重点引脚ESD耐受电压情况。
2、在研发、生产组装和测试等过程中,尤其在产品设计中,均应采取ESD防护措施。例如,在电路设计的接口处以及易受静电放电损伤或影响的地方,应增加静电保护,生产中应佩戴防静电手套等。